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在芯片制造过程中,离子注入是其中一道重要的工序。如图所示是离子注入工作原理示意图,离子经加速后沿直线A0A1进入速度选择器,然后垂直于A1A4C4C1平面进入偏转系统后注入处在水平面内的晶圆(硅片)。速度选择器和偏转系统中的匀强磁场的磁感应强度大小均为B,方向均垂直纸面向外,速度选择器和偏转系统中的匀强电场场强大小均为E,方向分别为竖直向上和垂直纸面向外。偏转系统中电场、磁场分布在一个边长为l正方体区域内,其底面与晶圆所在水平面平行,间距也为l。当偏转系统不加电场时,离子恰好竖直注入到晶圆上。整个系统置于真空中,偏转系统底面中心O位于晶圆中心O1正上方,离子的电荷量为q,不计离子重力。求:
(1)离子通过速度选择器的速度大小v和离子质量;
(2)偏转系统磁感应强度调整为1.5B时,不加电场带电离子在偏转系统中的运动时间;
(3)偏转系统磁感应强度调整为1.5B后,同时给偏转系统加上电场,离子从偏转系统底面飞出,注入到晶圆所在水平面的位置的坐标。

【答案】(1)离子通过速度选择器的速度大小为
E
B
,离子质量为
q
B
2
l
E

(2)偏转系统磁感应强度调整为1.5B时,不加电场带电离子在偏转系统中的运动时间为
4
π
B
l
9
E

(3)偏转系统磁感应强度调整为1.5B后,同时给偏转系统加上电场,离子从偏转系统底面飞出,注入到晶圆所在水平面的位置的坐标为
-
l
2
,-
l
2
+
8
π
2
l
81
+
8
3
27
πl
【解答】
【点评】
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发布:2024/6/27 10:35:59组卷:44引用:2难度:0.4
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    m
    l
    2
    q
    t
    0
    2
    ,不考虑P、Q两板电压的变化对磁场的影响,也不考虑粒子的重力及粒子间的相互影响,求:
    (1)t=0时刻进入两板间的带电粒子射入磁场时的速度;
    (2)匀强磁场的磁感应强度的大小及磁场区域的面积;
    (3)t=t0时刻进入两板间的带电粒子在匀强磁场中运动的时间。

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