图甲是用光的干涉法来检查物体表面平整程度的装置,其中A为标准平板,B为被检查的物体,C为入射光,图乙为观察到的干涉条纹,下列说法正确的是( )
【考点】用薄膜干涉检查工件的平整度.
【答案】B
【解答】
【点评】
声明:本试题解析著作权属菁优网所有,未经书面同意,不得复制发布。
发布:2024/4/20 14:35:0组卷:283引用:1难度:0.7